原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 

 原裝美國Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

F10-AR

易于使用而且經(jīng)濟(jì)有效地分析減反涂層和鏡頭上的硬涂層

F10-AR 是為簡(jiǎn)便而經(jīng)濟(jì)有效地測(cè)試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的臺(tái)儀器。 雖然價(jià)格大大低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器，應(yīng)用幾項(xiàng)*進(jìn)技術(shù)， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，就可以進(jìn)行厚度測(cè)量。

在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進(jìn)行和平均反射測(cè)試。

我們有專門的算法對(duì)硬涂層的局部反射失真進(jìn)行校正。 我們*的 AutoBaseline 能地增加基線間隔，提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的度。

利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)能測(cè)量 0.25-15um 的硬涂層厚度。 在減反層存在的情況下也能對(duì)硬涂層厚度進(jìn)行測(cè)量。

無須處理涂層背面 原裝美國Filmetrics F10-ARc薄膜分析儀

我們的探頭設(shè)計(jì)能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的鏡頭抑制的更多。

就像我們所有的臺(tái)式儀器一樣，F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定。

原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 

包含的內(nèi)容：

• 集成光譜儀/光源裝置
• FILMeasure 8 軟件
• FILMeasure 獨(dú)立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)
• CP-1-1.3 探頭
• BK7 參考材料
• 整平濾波器 (用于高反射基板)
• 備用燈

額外的好處：

• 每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種
• 應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）
• 網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))
• 硬件升級(jí)計(jì)劃